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产品型号
GEN3 CAF2 -
厂商性质
经销商 -
更新时间
2026-02-09 -
浏览次数
7538
产品描述
离子迁移测试仪-256通道 1250V 有效监测离子迁移引致表面绝缘阻抗(SIR)变化以及生产PCB内层阳极导电丝(CAF现象)。GEN3 CAF2可根据标准要求条件和自定义条件进行SIR,CAF测试,GEN3 CAF2和IEC,ISO,IPC,BSI......等机构保持紧密联系合作,并订立相关SIR测试协定,广泛应用于成品寿命可靠度,材料和制程特性研究。
产品分类
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