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离子迁移测试仪-256通道 1250V

型 号GEN3 CAF2

产品时间2024-07-17

所属分类(英国GEN3)离子迁移测试仪CAF2(256通道)(1250V)

报价

产品描述:离子迁移测试仪-256通道 1250V 有效监测离子迁移引致表面绝缘阻抗(SIR)变化以及生产PCB内层阳极导电丝(CAF现象)。GEN3 CAF2可根据标准要求条件和自定义条件进行SIR,CAF测试,GEN3 CAF2和IEC,ISO,IPC,BSI......等机构保持紧密联系合作,并订立相关SIR测试协定,广泛应用于成品寿命可靠度,材料和制程特性研究。
产品概述

GEN3 Auto CAF2+离子迁移监测系统设备

有效监测离子迁移引致表面绝缘阻抗(SIR)变化及生成PCB内层阳极导电丝(CAF

一、GEN3 CAF2(1250V)用途:

根据IPC标准中有明确要求,测试条款为IPC-TM-650 2.6.25 《Conductive Anodic Filament (CAF) Resistance》。另外各大汽车零部件厂商如德尔福、博世、大陆等也有其专门的企业测试标准,主要测试内容就是将被测PCB板放置在85℃,85%RH的环境中处理1000小时,并在PCB板的孔与孔之间、线与线之间,或者是孔与内层之间、层与层之间施加一定的电压,然后持续监控其绝缘阻值变化,通过绝缘阻值变化了解其内部可能存在的一系列问题,而这种测试的缺陷就是板材内部出现了CAF现象。通过CAF测试可以基本了解具体是在哪个工艺环节可能产生了问题,从而进一步工艺改善。具体包括指导PCB设计人员选用合适的孔间距和线间距;指导PCB制造商选用适合的耐CAF材料组合;指导PCB制造商改进生产工艺;指导CCL供应商改进材料配方和加工工艺。

可根据各种标准要求条件和自定义条件进行SIR,CAF测试。

GEN3保持和IEC,ISO,IPC,BSI......等机构学会的长期合作,发展并订立相关SIR测试协定,应用于成品寿命可靠度,材料和制程特性研究。

GEN3 CAF2适用于:

IEC61189-5;ISO9455-17;IPC-TM-650;

BELLCORE GR78;DIN German & JIS Japanese STD;ANS/IPC-JSTD001;

IPS-JSTD-004;IPC-SM-840;IPC-CC-830&IEC 1086;IPC-9691;

ISO 19295:2016(E)Automotive.


二、GEN3 CAF2(1250V)测试原理:

三、GEN3 CAF2(1250V)规格:

四、关于CAF测试推荐配套:

根据CAF测试的标准中要求,需要将被测的-考试板放置在“80℃+85%RH"的环境中放置1000小时。故考虑到长时间的测试,对配套的“试验箱"提出了要求,推荐使用-艾斯佩克GPR系列高低温湿热试验箱。



金合博源,为您提供适用的CAF测试设备方案!!!

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